Entwodiksyon nan Optik elektwon Mikwoskop
Optik elektwon mikwoskop (optik mikwoskop, SEM) se yon gwo-echel presizyon enstriman itilize pou-wo rezolisyon mikwo-topografi analiz. Li te gen karakteristik yo nan gwo pwofonde nan jaden, rezolisyon segonde, imaj entwisyon, fo twa-dimansyon sans, laje seri manyifikasyon laje, ak echantiyon an yo dwe teste ka vire ak tilte nan twa espas dimansyon.