Karakteristik nan optik mikwoskòp elèktron
Malgre ke mikwoskòp elektwonik optik la se yon etwal k ap monte nan fanmi mikwoskòp la, li te devlope rapidman paske nan anpil avantaj inik li yo.
1 Enstriman an gen yon rezolisyon segondè, epi yo ka itilize imaj elektwonik segondè a pou obsève detay sou sifas echantiyon an nan apeprè 6nm. Sèvi ak zam nan elèktron LaB6, li ka plis amelyore a 3nm.
2 Ranje a nan mikwoskòp nan enstriman an se gwo epi yo ka kontinyèlman ajiste. Se poutèt sa, ou ka chwazi gwosè diferan nan jaden de vi pou obsèvasyon selon bezwen ou yo. An menm tan an, ou ka jwenn gwo klète imaj klè ki difisil pou reyalize ak mikwoskòp elektwonik transmisyon òdinè nan gwo mikwoskòp.
3 Obsève pwofondè nan jaden nan echantiyon an, jaden an de vi se gwo, ak imaj la se tout sans ki genyen twa dimansyon. Li ka dirèkteman obsève sifas la ki graj ak fluctuations gwo ak ka zo kase metal la inegal nan echantiyon an, elatriye, bay moun santi a ke yo te nan mond lan mikwo.
4 Preparasyon echantiyon an senp, osi lontan ke blòk la oswa echantiyon poud la trete oswa ou pa trete yon ti kras, li ka dirèkteman obsève nan mikwoskòp elektwonik optik la, kidonk li pi pre eta natirèl sibstans lan.
5 Kalite imaj la ka efektivman kontwole ak amelyore pa metòd elektwonik, tankou antretyen otomatik nan klète ak kontras, echantiyon enklinezon ang koreksyon, wotasyon imaj, oswa latitid la nan amelyore kontras imaj nan Y modulation, ak klète nan chak pati nan imaj la Modere. Lè l sèvi avèk aparèy agrandisman doub oswa selektè imaj, imaj ak agrandisman diferan ka wè ansanm sou ekran an fliyoresan.
6 Analiz konplè se posib. Ekipe ak yon longèdonn-dispersif X-ray spèktromètr (WDX) oswa yon enèji-dispersiv X-ray spèktromètè (EDX), li gen fonksyon an nan yon sond elektwonik epi li ka detekte tou elektwon reflete, X-reyon, fluoresans katod, transmèt elektwon. , ak Auger Elektwonik, elatriye Ogmante aplikasyon an nan optik mikwoskopi elektwonik nan divès metòd mikwoskopik ak mikwo-zòn analiz montre adaptabilite nan optik mikwoskopi elektwonik. Anplis de sa, li posib tou pou analize mikwo-rejyon opsyonèl echantiyon yo pandan y ap obsève imaj mòfolojik la; ak atachman an nan detantè echantiyon semi-conducteurs a, junction PN la ak mikwo-domaj nan tranzistò a oswa sikwi entegre ka dirèkteman obsève nan anplifikatè a imaj fòs elektwomobil. Depi anpil sond elektwonik SEM reyalize elektwonik òdinatè otomatik ak semi-otomatik kontwòl, vitès la nan analiz quantitative amelyore anpil.